泰勒霍普森高精度粗糙度轮廓仪表面粗糙度、轮廓、三维和直径测量

泰勒霍普森Form Talysurf PGI NOVUS 它是进的表面粗糙度、轮廓、三维和直径测量系统，为产品设计和生产带来了独特的优势。该仪器领先 20 mm 量程，分辨率为 0.2 nm，粗糙度、形状、波纹度、直径、夹角等。可以以同样的速度和精度测量。

该系统是轴承、喷油器等精密零件制造商的理想解决方案。 Metrology 4.0 该软件还可以获得面粗糙度、轮廓和形状的即时测量和分析反馈。

新型Form Talysurf® 进的表面粗糙度、轮廓、新概念、新创举 3D直径测量系统。

新型Form Talysurf® PGI NOVUS核心部件是 具有突破性意义的双向传感器。 NOVUS传感器可以在正反两个方向上 测量直径、角度和表面粗糙度的速度和精度相同。 通过这一改进，泰勒霍普森成功解决了轴承， 喷油器和精密零件制造商面临的测量挑战。

泰勒霍普森Form Talysurf PGI NOVUS 表面粗糙度、轮廓、3D直径测量系统

新型Form Talysurf PGI NOVUS核心部件是具有突破性意义的双向传感器。

NOVUS传感器可以以相同的速度和精度测量直径、角度和表面粗糙度。 

泰勒霍普森通过这一改进，成功地解决了轴承、喷油器和精密零件制造商面临的测量挑战。

泰勒霍普森Form Talysurf PGI NOVUS 产品亮点:

① 分辨率

② 符合 ISO 自动测力控制标准

③ 用双向传感器测量直径和角度

④ Metrology 4.0 - 智能软件

⑤ Metrology 4.0 提供虚拟显示和实时控制等简单直观的界面。先进的点和移动轴控制功能(智能移动)可以实现精确定位和轻松测量。

泰勒霍普森Form Talysurf PGI NOVUS操作员得益

虚拟显示 - 模拟测量过程，采用清晰的状态显示、屏幕指示、实时反馈和远程系统控制。

智能移动 - 移动和测量的直观操作。设置零件坐标后，用户可以放大肉眼看不见的细节，并围绕虚拟零件编程。

变量编程 - 使用户能够自动测量多种尺寸的零件，而无需多次编程。

泰勒霍普森Form Talysurf PGI NOVUS应用

⑥ 滚珠丝杠轴向测量 - 两侧 PCD 分析

⑦ 轴承 - 球面、滚子和四点接触

⑧ 齿轮 - 渐开线形状

⑨ 喷油器 - 直线度和座面角

⑩ 多零件测量 - 通过单一程序实现

旨在满足您的个性化需求，在任何环境下都能有独特的配置，支持从车间到实验室的高精度检测。

购买泰勒霍普森的产品是投资市场上准确、准确的产品 测量系统稳定，重复性。

 Form Talysurf® PGI NOVUS具有以下领先优势： 

独特的设计和制造优势 一次测量，多个结果，即时反馈 表面粗糙度 

低噪声、高分辨率传感器可一次性测量粗糙度、波纹和形状  

我们的专利校准技术可以测量半径、角度、 高度、长度、距离等。

三维形貌 使用可选的电动Y轴台和Metrology 4.0 软件，传统的2D测量转换为3D测量。 

工业4.0 - 智能工厂现代制造业的未来 工业 4.0 智能工厂的发展是通过制造环境中的自动化、数据交换和流程控制来推动的。智能工厂包括物联网、人联网、云计算、智能传感器和高级技术等各种现代技术SPC软件。泰勒霍普森的发展符合这一趋势，与工业4一致.0 理念一致。

1、角度 

2、直径 

3、 半径 

4、形状 

5、 量程 

6、分辨率

泰勒霍普森在英国Metrology4.0-智能软件：

Metrology 4.0提供简单直观的界面，包括虚拟显示和实时控制。先进的点和移动轴控制功能(智能移动)可以准确定位和轻松测量。

操作员：

虚拟显示-用清晰的状态显示、屏幕指示、实时反馈和远程系统控制来模拟测量过程。

智能移动-移动和测量的直观操作。设置零件坐标后，用户可以放大肉眼看不见的细节，并围绕虚拟零件编程。

变量编程——用户无需多次编程就可以自动测量各种尺寸的零件。

设计制造的特殊优势

一次测量，多个结果，即时反馈

粗糙度、波纹度和形状高分辨率传感器可一次性测量粗糙度、波纹度和形状。

轮廓-我们的**校准技术可以测量半径、角度、高度、长度、距离等。

三维形状-使用可选电动Y轴台和Metrology 4.0软件，传统的2D测量转换为3D测量。

轴承-球面、滚子和四点接触:

Form Talysurfs PGI NOVUS结合形状和表面粗糙度测量和精确直径测量，可综合评价各种类型的轴承。

球面轴承分析包括：LS弧形自动拟合、表面粗糙度、形状偏差、漆道直径和角度。

滚子轴承分析包括：DXF拟合、滚子轮廓及落差、误差结果、公差及表面粗糙度。

四点接触轴承分析包括：尖拱分析、表面粗糙度、尺寸、接触角、半径、X向和Z的偏移量。