德国Mahr马尔干涉仪FI-1040-Z

德国Mahr马尔干涉仪FI-1040-Z

为了适应制造工艺的创新，生产计量的作用也在不断改变。因为精确度要求和循环时间缩短比以往更加严格，在制造机器上直接进行快速测量成为必要条件。MarOpto Fizeau 干涉仪可测量生产产品的球面，为生产工艺提供了最快的反馈，从而避免了缺陷产品。

德国Mahr马尔干涉仪FI-1040-Z产品信息

MarOpto FI 1040 Z是一款功能强大且紧凑的干涉仪，具有40 mm孔径，可在平面和球面以及波前上提供无接触测量。

可以通过简单的干涉条纹检测、IntelliPhase静态空间载波分析或标准相位盘进行测量。MarOpto FI 1040 Z提供当今工业应用所需的灵活性和卓越性能。除了表面测试光学元件外，还可以测量曲率半径和波前。

体积小，便于集成到OEM系统中。因此，可以以有吸引力的性价比实现精确的测量。干涉仪可用于水平和垂直方向。

德国Mahr马尔干涉仪FI-1040-Z产品应用：

小型光学器件的透射和表面测试光学、机械零件、陶瓷、半导体和晶片的测量综合曲率半径测量.德国Mahr马尔MAROPTO FI 1040 Z FIZEAU 干涉仪。

德国Mahr马尔干涉仪FI-1040-Z产品特点:

1.可用于平面和球面40 mm Fizeau 干涉仪40 mm Fizeau 干涉仪，可用于平面和球面

MarOpto FI 1040 Z 是一款功能强大的干涉仪，可以提供平面和球面以及透射波阵面非接触测量。MarOpto FI 1040 Z 是测量平晶、棱镜和镜头或精密金属工件（包括轴承、密封表面和抛光陶瓷）等光学组件的理想选择。

2.可以通过简单的干涉条纹检测、IntelliPhase 静态空间载波分析或相位调制干涉图分析来执行测量。MarOpto FI 1040 Z 可提供现在的工业应用需要的灵活性和优异的性能。6x / 3x 缩放，适合MAX直径 1.5 mm 的工件3 种干涉图分析模式：相移，IntelliPhase – 静态空间载波分析，或条纹跟踪（自动或手动）尺寸小，方便集成到 OEM 系统。紧凑耐用的设计从 F / 0.7 到 F / 6.0 的透射球面.

3.德国Mahr马尔MAROPTO FI 1040 Z FIZEAU 干涉仪应用小型光学元件的透射和表面测试光学元件、车削零件、陶瓷、半导体和晶圆的测量集成曲率半径测量