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德国Mahr马尔干涉仪FI-1040-Z

产品型号:产品货号 2811113
发布日期:2022-12-23
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德国Mahr马尔干涉仪FI-1040-Z

为了适应制造工艺的创新,生产计量的作用也在不断改变。因为精确度要求和循环时间缩短比以往更加严格,在制造机器上直接进行快速测量成为必要条件。MarOpto Fizeau 干涉仪可测量生产产品的球面,为生产工艺提供了最快的反馈,从而避免了缺陷产品。

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德国Mahr马尔干涉仪FI-1040-Z产品信息

MarOpto FI 1040 Z是一款功能强大且紧凑的干涉仪,具有40 mm孔径,可在平面和球面以及波前上提供无接触测量。

可以通过简单的干涉条纹检测、IntelliPhase静态空间载波分析或标准相位盘进行测量。MarOpto FI 1040 Z提供当今工业应用所需的灵活性和卓越性能。除了表面测试光学元件外,还可以测量曲率半径和波前。

体积小,便于集成到OEM系统中。因此,可以以有吸引力的性价比实现精确的测量。干涉仪可用于水平和垂直方向。

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德国Mahr马尔干涉仪FI-1040-Z产品应用:

小型光学器件的透射和表面测试光学、机械零件、陶瓷、半导体和晶片的测量综合曲率半径测量.德国Mahr马尔MAROPTO FI 1040 Z FIZEAU 干涉仪。

德国Mahr马尔干涉仪FI-1040-Z产品特点:

1.可用于平面和球面40 mm Fizeau 干涉仪40 mm Fizeau 干涉仪,可用于平面和球面

MarOpto FI 1040 Z 是一款功能强大的干涉仪,可以提供平面和球面以及透射波阵面非接触测量。MarOpto FI 1040 Z 是测量平晶、棱镜和镜头或精密金属工件(包括轴承、密封表面和抛光陶瓷)等光学组件的理想选择。

2.可以通过简单的干涉条纹检测、IntelliPhase 静态空间载波分析或相位调制干涉图分析来执行测量。MarOpto FI 1040 Z 可提供现在的工业应用需要的灵活性和优异的性能。6x / 3x 缩放,适合MAX直径 1.5 mm 的工件3 种干涉图分析模式:相移,IntelliPhase – 静态空间载波分析,或条纹跟踪(自动或手动)尺寸小,方便集成到 OEM 系统。紧凑耐用的设计从 F / 0.7 到 F / 6.0 的透射球面.

3.德国Mahr马尔MAROPTO FI 1040 Z FIZEAU 干涉仪应用小型光学元件的透射和表面测试光学元件、车削零件、陶瓷、半导体和晶圆的测量集成曲率半径测量




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